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用于干式檢測芯片反應分布測量裝置OD4-8的特點
特征
可以測量電池中的反應分布
由于它是斬波器系統,因此可以消除外部光線和噪音。
光密度是根據樣品相對于參考的透射率計算的。
可以任意間隔進行連續測量。
選項多點測量 使用偏振棱鏡進行極化率測量 定波長下的透射率測量
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