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SNK表面附著異物可視化技術(shù)分析

發(fā)布時(shí)間:2024-01-25 點(diǎn)擊量:433

SNK表面附著異物可視化技術(shù)分析

顆粒可視化技術(shù)可用于高靈敏度地檢測(cè)光滑表面上的顆粒。此外,通過(guò)可視化顆粒成分產(chǎn)生的熒光,可以日常管理表面異物和污垢。

如何利用散射光

高靈敏度粒子可視化技術(shù)捕獲移動(dòng)粒子的散射光。同樣的原理可用于高靈敏度地檢測(cè)表面異物或移動(dòng)產(chǎn)品的微弱散射光。使用激光只能應(yīng)用于光滑的產(chǎn)品,但可以通過(guò)可視化進(jìn)行檢測(cè),例如,即使在施加張力的薄膜中也是如此。

使用散射光檢測(cè)產(chǎn)品表面附著的顆粒。
使用散射光感測(cè)表面異物

如何一起使用熒光

附著在表面的異物或污垢可能會(huì)因其成分而反射熒光。為了使熒光顏色變得清晰,需要想辦法照射光線,但如果使用特殊的濾光片來(lái)濾除散射光,表面的異物就會(huì)變得非常豐富多彩,并且很容易看到。通過(guò)這種方法,無(wú)論表面的光滑程度如何,只要有光到達(dá),就可以進(jìn)行可視化。“D Light"可免費(fèi)借用(約2天)。請(qǐng)借此機(jī)會(huì)嘗試一下。

通過(guò)熒光顏色可以檢測(cè)污染物的熒光
利用熒光識(shí)別異物和污垢

利用技術(shù)可視化表面顆粒的最佳解決方案

  • “D Light"是一種可以更輕松地從視覺(jué)上看到異物和表面污垢的熒光顏色的工具。

  • “D Scope"是一種可以捕獲最微弱熒光的工具,可以分析細(xì)小顆粒的各種信息并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)。

  • 平行眼 F是一種相對(duì)容易設(shè)置在您想要可視化的表面上的光源。

  • Parallel Eye H是可視化寬闊、光滑的產(chǎn)品表面的最佳光源。

  • Parallel Eye D是可視化不平坦表面或使熒光更加突出的最佳光源。

  • 具有粒子檢測(cè)專用的靈敏度和功能的超高靈敏度相機(jī)就是專用超高靈敏度相機(jī)“粒子眼"。

  • 要在 PC 上實(shí)時(shí)處理和記錄圖像,請(qǐng)使用圖像處理包“ParticleEye"