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軟薄膜和薄膜用臺(tái)式離線電容式測厚儀介紹

發(fā)布時(shí)間：2024-07-01　點(diǎn)擊量：377

軟薄膜和薄膜用臺(tái)式離線電容式測厚儀介紹


模型TOF-C2 *TOF-C 后繼型號(hào)
測量方法非接觸式/電容式
測量目標(biāo)薄膜、粘性保護(hù)膜、易吸灰塵的薄膜
測量原理電容式
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產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 高測量分辨率

  • 由于它是一種非接觸式方法，因此非常適合用接觸式方法難以測量的薄膜。

  • 即使在粗糙的表面上也可以進(jìn)行測量。

  • 定量測量

  • 操作簡單（具有介電常數(shù)自動(dòng)設(shè)定功能）

產(chǎn)品規(guī)格
測量厚度～500μm
測量長度10～10000mm
測量間距1毫米~
最小顯示值0.01微米
電源電壓交流100V 50/60Hz
工作溫度限制5～40℃（測量時(shí)溫度變化1℃以內(nèi)）
濕度35-80%（無冷凝）