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產(chǎn)品型號: D-15M
所屬分類:
產(chǎn)品時間:2024-09-06
簡要描述:日本IHI檢驗測量設(shè)備靈敏度計DOS測試儀D-15M為防止在發(fā)電廠,精煉廠和其他化工廠中經(jīng)常使用的奧氏體不銹鋼發(fā)生晶間腐蝕和晶間應(yīng)力腐蝕開裂等事故,可以現(xiàn)場評估敏化程度。它是一種測量儀器。支持現(xiàn)場測量!實現(xiàn)了體積小,重量輕!使用熒光顯像管進行顯示!簡化數(shù)據(jù)處理“銀氯化銀電極"可以進行測量!符合JIS G 0580!
日本IHI檢驗測量設(shè)備靈敏度計DOS測試儀D-15M
為防止在發(fā)電廠,精煉廠和其他化工廠中經(jīng)常使用的奧氏體不銹鋼發(fā)生晶間腐蝕和晶間應(yīng)力腐蝕開裂等事故,可以現(xiàn)場評估敏化程度。它是一種測量儀器。
體重 | 2.5公斤 |
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車身尺寸 | 305 x 164 x 90毫米 |
電源供應(yīng) | 100-240V(50 / 60Hz)大100VA以下 |
內(nèi)部存儲器中存儲的項目數(shù) | 50箱 |
電流范圍(自動范圍) | 1)10mA范圍2)50mA范圍3)100mA范圍 |
電極類型 | 1)飽和甜電極(Hg2Cl2 / Hg)2)銀/氯化銀電極(Ag / AgCl) |
工作溫度極限 | 7℃?35℃ |
日本IHI檢驗測量設(shè)備靈敏度計DOS測試儀D-15M
當通過焊接等將具有優(yōu)異耐腐蝕性的奧氏體不銹鋼例如SUS304加熱至500至850℃時,碳化鉻沉淀在金屬的晶界處,導(dǎo)致其在晶界附近生長。產(chǎn)生具有低耐腐蝕性的區(qū)域(鉻缺乏層)。這種現(xiàn)象稱為敏化。
隨著敏化的進行,可能會發(fā)生晶間腐蝕和晶間應(yīng)力腐蝕開裂,這可能會導(dǎo)致嚴重事故。