在线А√天堂中文官网,学长边洗澡边把我处破了小说,罚女仆夹震蛋器憋尿虐乳网站,亚洲人成在线观看

網(wǎng)站首頁產(chǎn)品展示 > > > HF-300日本napsonμ非接觸μ-PCD法測量硅片磚壽命
產(chǎn)品中心

Product center

相關(guān)文章
日本napsonμ非接觸μ-PCD法測量硅片磚壽命

日本napsonμ非接觸μ-PCD法測量硅片磚壽命

產(chǎn)品型號: HF-300

所屬分類:

產(chǎn)品時間:2024-09-07

簡要描述:日本napsonμ非接觸μ-PCD法測量硅片磚壽命
非接觸/無損壽命測量
與單晶和多晶硅樣品兼容
支持多點(diǎn)樣本測量和映射圖像顯示
包含激情膠囊(用于威化餅)

詳細(xì)說明:

日本napsonμ非接觸μ-PCD法測量硅片磚壽命

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 非接觸/無損壽命測量
  • 與單晶和多晶硅樣品兼容
  • 支持多點(diǎn)樣本測量和映射圖像顯示
  • 包含激情膠囊(用于威化餅)

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

單晶/多晶硅晶片,磚(散裝)

測量尺寸

[晶片] <方形>
?210 x 210mm <圓形>?200mmφ
[磚]大210(寬)x 210(高)x 500(深)mm

測量范圍

0.1μS至1,000μS
(要測量的電阻范圍; 0.1至1kΩ ·cm)

<測量激光單元>類型:半導(dǎo)體激光二極管,
波長:905 nm(對于晶片)/ 1,000 nm(對于磚),峰值功率:60 W,脈沖寬度:80 nS

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 非接觸/無損壽命測量
  • 與單晶和多晶硅樣品兼容
  • 支持多點(diǎn)樣本測量和映射圖像顯示
  • 包含激情膠囊(用于威化餅)

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

單晶/多晶硅晶片,磚(散裝)

測量尺寸

[晶片] <方形>
?210 x 210mm <圓形>?200mmφ
[磚]大210(寬)x 210(高)x 500(深)mm

測量范圍

0.1μS至1,000μS
(要測量的電阻范圍; 0.1至1kΩ ·cm)

<測量激光單元>類型:半導(dǎo)體激光二極管,
波長:905 nm(對于晶片)/ 1,000 nm(對于磚),峰值功率:60 W,脈沖寬度:80 nS

 



留言框

  • 產(chǎn)品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯(lián)系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細(xì)地址:

  • 補(bǔ)充說明:

  • 驗(yàn)證碼:

    請輸入計算結(jié)果(填寫阿拉伯?dāng)?shù)字),如:三加四=7